介電常數(shù)自動(dòng)介質(zhì)損耗測(cè)試儀性能特點(diǎn)◎ 全自動(dòng)一鍵操作可自動(dòng)掃描最平穩(wěn)的量程階段◎微電腦處理器反應(yīng)迅速可在最短時(shí)間內(nèi)計(jì)算出最佳頻段

◎ 夾具數(shù)字顯示◎ 4.3寸TFT液晶顯示◎ 中英文可選操作界面

◎ 最高2MHz的測(cè)試頻率，10mHz分辨率

◎ 平衡測(cè)試功能◎ 變壓器參數(shù)測(cè)試功能

◎ 最高測(cè)試速度:13ms/次

◎ 電壓或電流的自動(dòng)電平調(diào)整（ALC）功能

◎ V、I 測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能

◎ 內(nèi)部自帶直流偏置源

◎ 可外接大電流直流偏置源

◎ 10點(diǎn)列表掃描測(cè)試功能

◎ 30Ω、50Ω、100Ω可選內(nèi)阻

◎ 內(nèi)建比較器，10檔分選和計(jì)數(shù)功能

◎ 內(nèi)部文件存儲(chǔ)和外部U盤文件保存

◎ 測(cè)量數(shù)據(jù)可直接保存到U盤

◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口

◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復(fù)性。

◎ 介電常數(shù)測(cè)量范圍可達(dá)1～105

主要技術(shù)指標(biāo)： 

ε和D性能：

固體絕緣材料測(cè)試頻率20Hz～2MHz的ε和D變化的測(cè)試。ε和D測(cè)量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

ε和D測(cè)量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

測(cè)試參數(shù) :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測(cè)試頻率 :20 Hz～2MHz,10mHz步進(jìn)

測(cè)試信號(hào)電:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準(zhǔn)確度 ;0.1%

顯示范圍 :

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C :0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D :0.0001 ～ 9.9999

Q :0.0001 ～ 99999

θ :-179.99°～ 179.99°

測(cè)量速度 ;快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準(zhǔn)功能 :開路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零，負(fù)載校準(zhǔn)

等效方式 :串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式

量程方式:自動(dòng), 保持

顯示方式 :直讀, Δ, Δ%

觸發(fā)方式 :內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線

內(nèi)部直流偏 :電壓模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn)

置源 :電流模式（內(nèi)阻為50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)

比較器功能:10檔分選及計(jì)數(shù)功能

顯示器;320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示

存儲(chǔ)器 :可保存20組儀器設(shè)定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（選件）

工作頻率范圍：20Hz～2MHz 數(shù)字合成，

精度：±0.02%

電容測(cè)量范圍：0.00001pF～9.99999F 六位數(shù)顯

電容測(cè)量基本誤差：±0.05%

損耗因素D值范圍：0.00001～9.99999 六位數(shù)顯

介電常數(shù)測(cè)試裝置（含保護(hù)電極）： 精密介電常數(shù)測(cè)試裝置提供測(cè)試電極，能對(duì)直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣精確測(cè)量。

它針對(duì)不同試樣可設(shè)置為接觸電極法，薄膜電極法和非接觸法三種，以適應(yīng)軟材料，表面不平整和薄膜試樣測(cè)試。

微分頭分辨率：10μm

最高耐壓：±42Vp（AC+DC）

電纜長(zhǎng)度設(shè)置：1m

最高使用頻率：30MHz

高頻介質(zhì)樣品（選購(gòu)件）： 在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。該樣品由人工藍(lán)寶石，石英玻璃， 氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測(cè)試樣品。用戶可按需訂購(gòu)，以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

介電常數(shù)自動(dòng)介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)試數(shù)據(jù)打印。測(cè)試完畢之后，在測(cè)試結(jié)果界面下，用觸屏筆或手指點(diǎn)擊“打印"按 鈕，會(huì)將測(cè)試數(shù)據(jù)打印出來(lái)。測(cè)試。打印數(shù)據(jù)或存儲(chǔ)數(shù)據(jù)完畢，用觸屏筆或手指點(diǎn)擊“退出"按鈕，儀器會(huì)返回初始開機(jī)界面。