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金屬膜四探針方阻電阻率檢測(cè)儀
簡(jiǎn)要描述:金屬膜四探針方阻電阻率檢測(cè)儀生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具;液晶顯示,自動(dòng)測(cè)量和系數(shù)補(bǔ)償,并帶有溫度補(bǔ)償功能,自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程;
更新時(shí)間:2024-07-17
產(chǎn)品型號(hào):BEST-300C
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問量:686
品牌 | 北廣精儀 | 價(jià)格區(qū)間 | 1萬-3萬 |
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自動(dòng)化度 | 全自動(dòng) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,建材,交通,汽車 |
金屬膜四探針方阻電阻率檢測(cè)儀l 直流電壓源:輸出電壓范圍 0~50V 分20mV、200mV、2V、20V、50V五檔,每檔輸出電壓可連續(xù)調(diào)節(jié),分辨力為1µV,基本誤差為0.05%RD±0.02%FS。
金屬膜四探針方阻電阻率檢測(cè)儀參數(shù)1.方塊電阻范圍 10^-5~2×10^5Ω/□2.電阻率范圍 10^-6~2×10^6Ω-cm測(cè)試電流范圍 0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA4.電流精度 ±0.1%5.電阻精度 ≤0.3%6.顯示讀數(shù) 液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率7.測(cè)試方式 普通單電測(cè)量8.工作電源 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗 lt;30W
本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,壓強(qiáng) 配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。
標(biāo)準(zhǔn)要求:該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,它與單電測(cè)直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
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