方阻計(jì) 四探針測(cè)試儀方阻計(jì)四探針?lè)y(cè)試低阻材料方阻及電阻率，可以測(cè)試到1uΩ方阻值，采用AD芯片控制，恒流輸出，液晶顯示，自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量，系數(shù)補(bǔ)償，

參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量. 提供中文或英文語(yǔ)言版本

四探針測(cè)試儀方阻計(jì) 四探針測(cè)試儀適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具；液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量和系數(shù)補(bǔ)償，并帶有溫度補(bǔ)償功能，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；采用AD芯片控制，恒流輸出，選配：PC軟件，保存和打印數(shù)據(jù)，生成報(bào)表

用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試等相關(guān)產(chǎn)品

參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍：10-5～2×105Ω/□   

2.電阻率范圍：10-6～2×106Ω-cm

3.測(cè)試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.3%

6.PC軟件界面：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率、電阻率、壓強(qiáng)等.

7.測(cè)試方式: 四探針測(cè)量（體電阻率）和四端法（接觸電阻測(cè)量）

8.壓力范圍：0-1000kg（0-4MPa）.

9. 樣品形狀為正方形（鍍金電極為5cm×5cm)，面積為25cm2（其他規(guī)格定制）

10.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗 lt;30W

11. 加壓方式：自動(dòng)

12. 樣品高度量程和精度：高度測(cè)量范圍：0.001-10.001mm，測(cè)量分辨率0.001mm

13.溫濕度范圍：常溫-50度；濕度：20%-98%

14.恒壓時(shí)間：0-99.9S

15.標(biāo)配標(biāo)準(zhǔn)件：a.標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻1個(gè)；b.標(biāo)準(zhǔn)高度校準(zhǔn)件1個(gè)

16. 工作電源：220±10% 50HZ/60HZ

半導(dǎo)體材料電阻率的國(guó)際及國(guó)標(biāo)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。它主要由電器測(cè)量部份（主機(jī)）及四探針頭組成，需要時(shí)可加配測(cè)試架。

為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測(cè)量電流及電阻率。樣品測(cè)試電流由高精度的恒流源提供，隨時(shí)可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測(cè)量的準(zhǔn)確度。