—— PROUCTS LIST
- 電壓擊穿試驗儀
- 電阻測試儀
- 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
- 拉力試驗機
- 總有機碳分析儀
- 低溫脆性沖擊試驗機
- 完整性測試儀
- 漏電起痕試驗機
- 磨擦磨損試驗機
- 耐電弧試驗儀
- 門尼粘度儀
- 落錘沖擊試驗機
- 垂直燃燒試驗儀
- 熱老化試驗箱
- 氧指數(shù)試驗儀
- 泡沫落球回彈試驗儀
- 橡膠硫化儀
- 氣動沖片機
- 啞鈴制樣機
- 熱變形維卡軟化點測試儀
- 落球沖擊試驗機
- 阿克隆摩擦試驗機
- 恒溫恒濕試驗箱
- 海綿落球回彈率測試儀
- 塑料球壓痕硬度計
- 毛細管流變儀
- 裁刀
- 海綿泡沫壓陷硬度試驗儀
- 擺錘沖擊試驗機
- 熱變形維卡軟化點測定儀
- 熔體流動速率儀
- 平板硫化機
- 簡支梁沖擊試驗機
- 微量水分測定儀
- 制樣機
- 灼熱絲試驗儀
- 疲勞沖擊測試儀
- 缺口制樣機
- 差示掃描量熱儀
- 紫外老化試驗箱
- 可塑性試驗機
- 導熱系數(shù)測定儀
- 鼓風干燥箱
- 邵氏硬度計
- 海綿泡沫拉伸強度試驗機
- 電池內(nèi)阻測試儀
- 石油產(chǎn)品全自動凝點傾點測試儀
- 閉口閃點全自動測定儀
介電常數(shù)與介質(zhì)損耗的關(guān)系
大家在日常使用介電常數(shù)測試儀的時候,不知道介電常數(shù)和介質(zhì)損耗存在著什么樣的關(guān)系,下面我來為大家介紹一下:
介電常數(shù)與介質(zhì)損耗的關(guān)系
一、基本定義
?介電常數(shù)(ε)?
表征材料在電場中存儲電荷的能力,數(shù)值上等于以該材料為介質(zhì)的電容器電容量與真空電容器的比值?45。介電常數(shù)越大,材料的極化能力越強,存儲電荷效率越高?。
?介質(zhì)損耗(tanδ)?
描述材料在交變電場中因電導損耗和極化滯后效應導致的能量損耗,通常用損耗角正切(tanδ)表示。其值越大,材料發(fā)熱越顯著?。
二、直接關(guān)系
?一般趨勢?
低介電常數(shù)的材料通常具有較小的介質(zhì)損耗。因為極化程度較低的材料在電場中響應較弱,能量損耗較少?。但這一關(guān)系并非絕對,需結(jié)合頻率、溫度等因素綜合判斷?。
?損耗機制?
?電導損耗?:由材料電導率引起,與介電常數(shù)無直接關(guān)聯(lián)?。
?極化損耗?:介電常數(shù)高的材料通常極化程度高,極化松弛可能加劇能量損耗?
三、影響因素
?電場頻率?
?低頻區(qū)?:介電常數(shù)達到峰值,極化充分,但損耗較低(極化損耗?。?。
?高頻區(qū)?:介電常數(shù)下降,極化響應滯后導化損耗顯著增加?。
?溫度?
溫時分子運動受限,極化損耗和電導損耗均較小?。
高溫下材料電導率上升(電導損耗增加),且極化松弛效應增強(極化損耗加?。?.
四、工程應用中的影響
?高頻電路設計?
高介電常數(shù)材料會增加信號傳輸延遲,同時高頻下介質(zhì)損耗可能引發(fā)信號衰減(如PCB板材需選擇低Dk和低Df材料)?。
?絕緣材料選擇?
高壓設備需兼顧介電常數(shù)和損耗:高介電常數(shù)可減小體積,但介質(zhì)損耗過大會導致熱擊穿
總結(jié)
介電常數(shù)與介質(zhì)損耗的關(guān)系受材料極化特性、頻率和溫度共同影響,需根據(jù)具體應用場景平衡兩者的數(shù)值。低介電常數(shù)材料通常損耗較小,但高極化材料可能因松弛效應導致?lián)p耗增加?
電壓擊穿測試儀,體積表面電阻率測試儀,介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀,TOC總有機碳分析儀,完整性測試儀,無轉(zhuǎn)子硫化儀,門尼粘度試驗機,熱變形維卡溫度測定儀,簡支梁沖擊試驗機,毛細管流變儀,橡膠塑料滑動摩擦試驗機,氧指數(shù)測定儀,水平垂直燃燒試驗機,熔體流動速率測定儀,低溫脆性測試儀,拉力試驗機,海綿泡沫壓陷硬度測試儀,海綿泡沫落球回彈測試儀,海綿泡沫壓縮永九變形試驗儀